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粒度分析儀:開(kāi)啟顆粒研究的新視界
2025-05-19

在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中,顆粒的粒度分布是許多領(lǐng)域關(guān)注的重要參數(shù)。無(wú)論是制藥行業(yè)的藥物研發(fā)、化工領(lǐng)域的粉體加工,還是環(huán)境科學(xué)中的粉塵監(jiān)測(cè),準(zhǔn)確掌握顆粒的粒度信息對(duì)于產(chǎn)品的性能、質(zhì)量控制以及工藝優(yōu)化都有著至關(guān)重要的影響。粒度分析儀作為一種檢測(cè)設(shè)...

  • 2017-08-04

    在粒度測(cè)試過(guò)程中,有時(shí)會(huì)出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常的情況,如重復(fù)性不好、同一個(gè)樣品結(jié)果與之前有差異等。這樣的情況一般是由以下幾個(gè)原因造成的。1、環(huán)境異常:粒度儀的使用環(huán)境應(yīng)該滿足以下條件,一是室溫在10℃~30℃之間,并且介質(zhì)溫度要與室溫相同或相近,若介質(zhì)與室溫溫相差過(guò)大會(huì)導(dǎo)致樣品池結(jié)霧而影響測(cè)試結(jié)果。二是實(shí)驗(yàn)臺(tái)要穩(wěn)固,周?chē)鸁o(wú)振動(dòng)源。振動(dòng)會(huì)使儀器測(cè)試過(guò)程中光路發(fā)生變化,導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不穩(wěn)。三是電源電壓要穩(wěn)定且有良好的接地,電壓不穩(wěn)會(huì)影響儀器內(nèi)部電路運(yùn)行的可靠性和光源的穩(wěn)定性,從而使信號(hào)不穩(wěn)或...

  • 2017-08-03

    超細(xì)化、納米化是現(xiàn)代粉體材料研究和生產(chǎn)的趨勢(shì),為滿足對(duì)這些材料的粒度分析,激光粒度儀的測(cè)量范圍也向超細(xì)化、納米化方向發(fā)展,所以現(xiàn)代高性能的激光粒度儀的測(cè)量下限已經(jīng)達(dá)到20nm甚至10nm,而樣品折射率(包括收率)是Mie散射求解的一個(gè)重要條件,如果折射率錯(cuò)誤,將導(dǎo)致粒度測(cè)試結(jié)果錯(cuò)誤。隨著新材料、合成材料以及混合材料越來(lái)越多,用常規(guī)手段測(cè)試這些材料的折射率很困難,這是粒度測(cè)試遇到的難題。為解決這個(gè)難題,百特研制成功了利用高性能激光粒度儀測(cè)量樣品折射率的方法,在粒度測(cè)試前先測(cè)量折...

  • 2017-08-02

    干法激光粒度儀的選購(gòu)方法1、干法激光粒度儀測(cè)量范圍粒度范圍寬,適合的應(yīng)用廣。不僅要看其儀器所報(bào)出的范圍,而且還要看超出主檢測(cè)器面積的小粒子散射如何檢測(cè)。的途徑是全范圍直接檢測(cè),這樣才能保證本底扣除的一致性。不同方法的混合測(cè)試,再用計(jì)算機(jī)擬合成一張圖譜,肯定帶來(lái)誤差。2、激光光源一般選用2mW激光器,功率太小則散射光能量低,造成靈敏度低;另外,氣體光源波長(zhǎng)短,穩(wěn)定性優(yōu)于固體光源。檢測(cè)器因?yàn)榧す庋苌涔猸h(huán)半徑越大,光強(qiáng)越弱,極易造成小粒子信噪比降低而漏檢,所以對(duì)小粒子的分布檢測(cè)能體...

  • 2017-08-02

    光在真空中的速度與光在其它材料中的速度的比值叫做折射率。樣品的折射率越高,表明入射光發(fā)生折射的能力就越強(qiáng)。吸收率是指光照射到顆粒上熱輻射能被吸收的量與投射到顆粒上的總熱輻射能量之比。在激光粒度分析軟件系統(tǒng)中,折射率是用復(fù)數(shù)表達(dá)表示,它的實(shí)部是實(shí)際折射率,虛部就是吸收率?,F(xiàn)代激光粒度儀的軟件系統(tǒng)中和粉體手冊(cè)中,都能查到常見(jiàn)樣品的折射率和吸收率。對(duì)特殊的樣品還可以通過(guò)其他資料查找折射率和吸收率,也可以通過(guò)測(cè)量得到樣品的折射率和吸收率。此外,還有用已知樣品的光學(xué)折射率來(lái)代替光學(xué)特性...

  • 2017-08-01

    一般由兩種方法,一是采取多次取樣法,即用小勺少量多次加樣,每加一次樣觀察一下遮光率的變化,當(dāng)達(dá)到預(yù)設(shè)值時(shí)就停止加樣進(jìn)入分散和測(cè)試階段。二是采用定量取樣法,即對(duì)同一規(guī)格的粉體樣品,先實(shí)驗(yàn)確定在*遮光率時(shí)所需要的樣品量,以后每次測(cè)試時(shí)都用天平稱(chēng)量相同量的樣品并全部加入到儀器中測(cè)試,就可以一次達(dá)到*范圍遮光率要求了。

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